正如多年前的PID測試序列一樣，最終形成一個(gè)統一的IEC規范可能有好幾年時(shí)間。如何設計一種光照和溫度序列能夠更好地進(jìn)行LeTID測試，將是今后數年都要持續討論和驗證的問(wèn)題。
1.LeTID定義
LeTID是光伏組件功率衰減的一種形式，具有幾個(gè)獨特的特點(diǎn)：
LeTID通常影響最新的電池技術(shù)，如PERC、PERT，不管是單晶或多晶，對傳統電池技術(shù)的功率衰減影響較小;
目前實(shí)驗室研究發(fā)現組件LeTID衰減率能高達10%;
當電池發(fā)電達到高溫(超過(guò)50°C)時(shí)更容易發(fā)生;
衰減最終穩定，效率或能恢復，但恢復速度不同，恢復機理不清楚;
2.LeTID測試的重要性
LeTID常常發(fā)生在新型電池技術(shù)如PERC、PERT等，這些技術(shù)近年來(lái)正在成為行業(yè)主導技術(shù)。據統計，PERC電池現在占據了全球市場(chǎng)的40%以上，預計其市場(chǎng)份額還將大幅增長(cháng)
對于光伏電站投資者和所有者來(lái)說(shuō)，任何不確定的因素都可能造成其投資收益損失，更何況現在全球光伏電站都在去補貼，留給光伏的收益空間已經(jīng)很窄。對于投資商、保險機構、業(yè)主、采購方都需要一種能被承認的測試結果來(lái)規避LeTID的電池衰減風(fēng)險。
這種風(fēng)險規避，和十年前對PID的擔心、對組件耐久性的擔心是一樣的。經(jīng)過(guò)多年的試錯和經(jīng)驗積累，行業(yè)對PID、組件及輔材耐久性已經(jīng)有很好的認識，如今對于新出現的LeTID，自然需要研究機構權威的分析結果。
作為分析結果的衰減率數據，對于精確的電站發(fā)電性能建模至關(guān)重要。如果沒(méi)有經(jīng)過(guò)充分驗證的第三方數據，工程師只能用最保守的估計來(lái)判斷LeTID對發(fā)電量的影響，這對于項目?jì)r(jià)值評估和可行性分析是極為不利的。
3.戶(hù)外LeTID情況
不少獨立研究都報道了戶(hù)外LeTID的存在，盡管公開(kāi)的電站衰減數據有限，但是眾多研究表明，新型技術(shù)組件在炎熱氣候條件下衰減增加。高功率組件帶來(lái)更高的組件工作溫度，也能影響到LeTID的發(fā)生。目前已有報道稱(chēng)：
安裝在塞浦路斯的光伏組件三年內的發(fā)電損失為7%;
同樣的組件安裝在德國有2.5%的發(fā)電損失。
4.LeTID與LID比較
LeTID與大家熟知的LID有何區別?相同之處是兩者都是經(jīng)光輻照之后產(chǎn)生，但其衰減模式是完全不同的。
5.LeTID測試方法
關(guān)于LeTID的測試方法不少研究機構都有報道，其難度在于如何設計一種模擬戶(hù)外環(huán)境條件，同時(shí)能確保組件衰減僅為L(cháng)eTID引起，沒(méi)有導致組件其它的衰減機理產(chǎn)生。行業(yè)通常接受相對溫和的測試條件，比如僅用高溫避免潮濕，以免產(chǎn)生PID。大家普遍采用的方法包括以下測試步驟：
1. 初期檢查：初期檢查不僅是了解送測組件的外觀(guān)，還要詳細了解組件的材料清單、工藝過(guò)程，甚至是電池的制造過(guò)程。最主要是處于研究者的考慮，在了解LeTID的形成機理前，研究機構除了檢測，還需要了解制程。
2. 光浸潤：和其它組件測試一樣，用于LeTID測試的組件首先需要經(jīng)過(guò)光浸潤，消除LID的影響，這和IEC 61215的測試要求一樣。經(jīng)過(guò)LID后，測試組件的起始性能。
3. LeTID測試：完成LID測試后，將組件置于75°C的環(huán)境試驗箱中，并用直流電源通以弱電流162小時(shí)，電流值參照組件的最大功率點(diǎn)的測試值。
4. 性能檢測：完成步驟3后檢查外觀(guān)、測試IV性能、濕漏電、EL，并分析功率損失是否與LeTID相關(guān)。
5. 重復步驟3兩次以上，總試驗時(shí)間達到486小時(shí)(相當于塞浦路斯戶(hù)外1.6年實(shí)證)。每162小時(shí)測試一次性能。
6.LeTID的測試結果示例
LeTID測試過(guò)程模擬得不好，會(huì )導致其它衰減的發(fā)生，因而衰減率更高。在前述測試條件下，一些機構的測試結果示例如下：
圖：LeTID測試前后的組件功率衰減
(右圖中電池片發(fā)黑說(shuō)明了經(jīng)過(guò)測試后的電池片變化)
7.關(guān)于LeTID的更多工作
不少公司對LeTID已經(jīng)開(kāi)展深入的研究，新南威爾士大學(xué)(Universityof New South Wales,簡(jiǎn)稱(chēng) UNSW) 2018年11月發(fā)布的一份研究報告顯示,阿特斯基于黑硅和多晶PERC技術(shù)的P4組件的開(kāi)路電壓(Voc)在166小時(shí)的輻照、75°C測試條件下,只有0.3%的衰減。這個(gè)測試結果佐證了阿特斯P4組件優(yōu)異的抗LeTID衰減性能。據悉阿特斯已經(jīng)累計交付超過(guò)2.6吉瓦抗LeTID高效PERC組件。
但光伏行業(yè)對于一個(gè)新衰減機理的認識、新測試序列的定義和新標準的起草非常慎重，一方面是因為這個(gè)行業(yè)很新，沒(méi)有太多的應用數據和實(shí)踐，另一方面這個(gè)行業(yè)需要更多的數據來(lái)解釋。通常在標準草案出來(lái)之前，不少第三方測試機構已經(jīng)在開(kāi)展業(yè)務(wù)并積累經(jīng)驗。目前關(guān)于LeTID的測試方法和標準草案已經(jīng)在準備，TÜV南德、CSA、CQC、天合、阿特斯以及一些電池供應商都已經(jīng)在參與。
