研究判明，結晶硅型太陽(yáng)能電池模塊長(cháng)時(shí)間暴露于高溫高濕環(huán)境下時(shí)，因封裝材料水解產(chǎn)生的醋酸會(huì )腐蝕印刷在太陽(yáng)能電池單元（發(fā)電元件）上的指狀銀電極，導致電極與硅界面的電阻升高。
因此，作為確認指狀銀電極可靠性的加速試驗方法，此前一直是將電池單元制成模塊，在溫度85℃、相對濕度85％的環(huán)境下進(jìn)行3000～5000小時(shí)的高溫高壓試驗的。
產(chǎn)綜研稱(chēng)，將太陽(yáng)能電池單元直接暴露于醋酸蒸汽中，則很短時(shí)間內就可看到與在高溫高壓環(huán)境下模塊上所觀(guān)測到的相同現象。劣化現象的發(fā)生速度約為在模塊上實(shí)施試驗的原方法的70倍。
將這種現象應用于加速試驗，就能以70倍以上的速度容易地確認太陽(yáng)能電池單元電極的可靠性了。
日經(jīng)BP社
日經(jīng)BP社
