蝸牛紋通常會(huì )沿著(zhù)電池的隱裂出現，因此會(huì )另隱裂看起來(lái)很顯眼。但不是所有出現隱裂的組件都會(huì )出現蝸牛紋。根據目前對該問(wèn)題的了解，受影響的組件性能衰退與蝸牛紋本身關(guān)系并不大，反而是與蝸牛紋下面的隱裂關(guān)系更大。
國外有文章指出蝸牛紋的出現與水汽有關(guān)，尤其是從背板透過(guò)的水汽，通過(guò)EVA膠膜后從隱裂處滲過(guò)，在電池片表面富集，造成銀漿氧化，形成黑色紋路。具體推演請參考如下內容：
基于以上描述，研究人員將隱裂的電池片層壓，不用背板封裝，將組件放入濕熱老化箱中，無(wú)法重現蝸牛紋，可見(jiàn)蝸牛紋的出現不僅僅與水汽的單方面作用有關(guān)，故而可以推斷，其與EVA的關(guān)系較大。
蝸牛紋的出現是一個(gè)綜合的過(guò)程，EVA膠膜中的助劑、電池片表面銀漿構成、電池片的隱裂以及體系中水份的催化等因素都會(huì )對蝸牛紋的形成起促進(jìn)作用，而蝸牛紋現象的出現也不是必然，而是有它偶然的引發(fā)因素，這也解釋了同一批次組件中不是所有的組件都必然出現的現象。小編也將跟進(jìn)針對蝸牛紋的進(jìn)一步研究結果。
