LeTID (Lightand elevated Temperature Induced Degradation)，業(yè)界稱(chēng)為“光照和高溫誘導衰減”，或者叫“光熱衰減”。名稱(chēng)有些拗口，但是值得大家花些時(shí)間去了解它，因為它會(huì )極大地影響你的太陽(yáng)能組件和電站發(fā)電性能。
光伏行業(yè)對LID(Light Induced Degradation)，也就是“光致衰減”現象已經(jīng)很了解。通常情況下，只要光伏組件暴露在陽(yáng)光下就會(huì )發(fā)生LID(光致衰減)，在短時(shí)間(幾天或幾周)內就能達到飽和的衰減。行業(yè)對于LID(光致衰減)的研究也已經(jīng)非常充分，產(chǎn)生機制也獲得一致認可，主要是硅材料內的硼氧缺陷。因為晶體生長(cháng)方法的差異，單晶硅材料內間隙氧含量遠高于多晶，從而LID衰減也遠高于多晶。兩到三年前PERC技術(shù)的推廣還受限于LID(光致衰減)，隨著(zhù)抗LID衰減技術(shù)的突破使LID得到比較有效的控制，加之設備的廣泛應用，PERC技術(shù)得以大規模導入。
然而LeTID衰減機制不同，它通常發(fā)生在光照和高溫(> 50°C)兩個(gè)條件同時(shí)滿(mǎn)足的情況下，并且LeTID對于PERC組件的發(fā)電量影響很大。PERC組件在實(shí)驗室的測試條件和電站實(shí)際工作環(huán)境中都存在LeTID(光熱衰減)現象。在組件工作溫度超過(guò)50°C時(shí)，不論是單晶還是多晶PERC組件都會(huì )發(fā)生LeTID(光熱衰減)，衰減率最高可達10%。
因此，購買(mǎi)PERC太陽(yáng)能組件時(shí)，無(wú)論單晶還是多晶，先了解制造商對LeTID的重視和了解程度。同時(shí)可以問(wèn)問(wèn)他們如何控制和解決LeTID問(wèn)題，并請他們向您展示一些可信的第三方測試報告。幾年后你將會(huì )為此感到慶幸。
